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差示扫描量热仪YND-A1

差示扫描量热仪YND-A1

检测样品氧化诱导期专用设备


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商品描述

检测样品氧化诱导期专用设备



技术特点:

1氧化诱导期专用测试仪,客户一键式操作,软件全自动运行。

2全新传感器样品支架,全封闭结构设计,防止物品掉入到炉体中去。

3仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 6部分 氧化诱导期氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动态OIT)的测定。

4内嵌10寸超大工业级别的电脑,无需另配电脑,一体化设备,显示信息丰富,包括设定温度、样品温度,氧气流量,氮气流量,差热信号,各种开关状态,流量归零。

5仪器右侧标配四路USB接口,方便用户外接鼠标、键盘、打印机,U盘等外部设备,方便用户使用。

6仪器内部USB通讯接口,相对于原有仪器,稳定性更强、通用性强,通信可靠不中断,支持自恢复连接功能。

7数字气体质量流量计自动切换两路气氛流量,切换速度快,稳定时间短。

8标配标准样品,方便客户校正恒温系数。

9预安装软件,无电脑适应性问题,减少由于更换使用电脑,安装驱动错误导致的连接等问题。

10支持用户自编程程序,实现测量步骤全自动化。软件提供数十种指令,用户可根据自己的测量步骤,灵活组合各指令,并保存。复杂的操作就简化成一键操作。

11: 配置WIN 10系统,拥有32GB容量2GB系统内存,无需使用U盘转移数据,仪器内部即可存储,操作方式触摸屏与鼠键均可使用

12双温度探头,分别检测炉体温度与样品温度,保证样品温度测量的高度重复性、真实性。

产品应用范围:

氧化诱导时间(OIT)是测定样品在高温(200摄氏度)氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间,是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。

氧化诱导期(简称OIT)方法是一种采用差热分析法(DTA)以塑料分子链断裂时的放热反映为依据,测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。

其原理是:将塑料式样与惰性参比物(如氧化铝)置于差热分析仪中,使其在一定温度下用氧气迅速置换式样室内地惰性气体(如氮气)。测试由于式样氧化而引起的DTA曲线(差热谱)的变化,并获得氧化诱导期(时间)OITmin),以评定塑料的防热老化性能。

仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 6部分氧化诱导期。氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动态OIT)的测定。

氧化诱导期已经被纳入管道行业及电线电缆强检范围。

 

技术参数:

1: 温度范围室温~500      

2: 温度分辨率: 0.01          

3: 量热分辨率:100%,在一定条件下可以完全分辨考得接近的两个热效力

4: 升温速率: 0.180/min

5: 降温速率:0.1/min-30/min

6: 恒温温度:室温-500℃

7: 恒温时间:建议<24h

8: 控温方式:升温,恒温(全自动程序控制)

9: DSC量程:  0~±500mW     

10: DSC解析度: 0.01mW                         

11: DSC灵敏度: 0.01mW

12: 工作电源: AC 220V  50Hz或定制

13:气氛控制气体:氮气 氧气(仪器自动切换)

14:气体流量:0-200mL/min  

15: 气体压力:0.2MPa

16: 气体流量精度:0.2mL/min 

17: 选配坩埚:铝质坩埚Φ6.7*3mm 

18: 参数标准:配有标准物质(铟,锡,锌),用户可自行校正温度

19: 数据接口:标准USB接口(接口内置,无需外部连接)

20: 显示方式:10寸工业电脑触摸显示,可外接鼠标、键盘、U盘、打印机

21:全进口传感器、进口芯片

22:全封闭支架结构设计,防止物品掉入到炉体中、污染炉体,减少维修率

23:功率:300W



DSC-YND-A1主机


炉体结构展示:


应用参数界面:


温度参数:


测试数据:




YND系列主机:


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